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YXLON依科视朗工业CT FF35

FF35 CT 亮点

· 1、单或双射线管配置,可最大限度提高实验室微焦点CT应用多功能性

· 2、只需轻触一个按钮,即可在数秒内在 225kV Micro-focus管和190kV Nano-focus管之间自如切换

· 3、花岗岩底座操控和温控,确保精确的结果 通过Geminy软件平台进行各种CT轨迹和视场 (FoV)  扩展,应用灵活

· 4、可选计量版本,测量精度可达 MPESD = 5.9µm  + L/75 [L in mm]

· 5、提供符合半导体市场标准的 FF35 CT SEMI 版本

· 6、新产品!最大样品重量可达 50千克 - 也可提供升级服务

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FF35 CT 亮点

· 1、单或双射线管配置,可最大限度提高实验室微焦点CT应用多功能性

· 2、只需轻触一个按钮,即可在数秒内在 225kV Micro-focus管和190kV Nano-focus管之间自如切换

· 3、花岗岩底座操控和温控,确保精确的结果 通过Geminy软件平台进行各种CT轨迹和视场 (FoV)  扩展,应用灵活

· 4、可选计量版本,测量精度可达 MPESD = 5.9µm  + L/75 [L in mm]

· 5、提供符合半导体市场标准的 FF35 CT SEMI 版本

· 6、新产品!最大样品重量可达 50千克 - 也可提供升级服务

 

可灵活检测中小型零件

Comet Yxlon FF35CTFF35 CT MetrologyFF35CT SEMI 涵盖了非凡的应用范围。丰富的功能涵盖了研发部门的改良材料测试、过程控制和小批量检验的优化,以及各种科学应用。双X射线管配置帮助高分辨率CT系统大幅扩展汽车、电子、航空和材料科学行业的质量保证和研究的应用空间。

 

成熟验证技术: 225kV折射式

微焦点射线管comet-yxlon-ff35-ct-partial-ct-image-of-battery

225kV Comet Yxlon 折射式微焦点射线管具有320W

 

高功率和水靶材,可在不到一分钟的时间内完成快速冷

CT 扫描。2D 检测时,射束管空间分辨率为4μm

可在单个检测序列内自如切换折射式微焦点射线管和

纳焦点透射管,大幅扩展应用范围。

完美的额外选配: 190kV纳焦点透射管

对于10mm 或更小尺寸的零件,分辨率在亚微米范围内的190kV 纳焦点透射管是理想的解决方案,有助于高分辨率检查各种样本:虽然其水冷式放射管头可实现快速温度调节并具有极高的焦点稳定性,但可通过四种模式基于功率进行相应的焦点尺寸适配调整。由于两根射线管均自备发生器和高压电缆,因此无需重新配置即可轻松切换。

 

各种轨迹最大限度提高灵活性

Geminy直观的用户界面上显示的图形符号和广泛的自动化功能,操作简便,不受操作员技能水平限制。同时,该软件还随附了丰富的功能,可灵活应对各类零件尺寸和检查任务,包括 HeliExtend(螺旋CT扫描和重建方法)等CT轨迹、水平和垂直视场扩展、虚拟旋转轴和标准QuickScan/QualityScan

 

FF35 CT可检测哪些物体                                     FF35 CT 用于哪些应用?

1、电子器件,包括SMD                                      1、质量保证、材料分析和研究

2、涉及新材料或新制造方法的产品:                     2、失效与结构分析                         

3、如增材制造零件、纤维增强塑料                      3、装配检查

     电池电芯和模组                                                

4、注塑成型塑料                                                4、小批量生产检验

5、微系统 (MEMS, MOEMS)                                 5、过程控制           

6、医疗用品,例如插管                                       6、数字化

7、轻合金铸件                                                    7、无损剖切

8、地质、古生物和生物样本

使用FF35 CT Metrology测量超精细内部结构

Comet Yxlon FF35CT MetrologyCT尺寸控制(例如超精细内部结构测量)的精确度提升至全新维度。一次 CT 扫描近乎捕获几乎无限的测量点,不受测量评估结果影响。无缝缺陷分析和名义值-实际值比较,节省时间并减少产品抽样校正循环相关的校正成本。FF35CT Metrology符合VDI/VDE 2630 标准。




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